PLS Plus激光微地貌扫描仪

用途：PLS Plus激光微地貌扫描仪基于三角测量原理测量地表微地貌高程，采用激光扫描获取各点高程，测量精度可以达到亚毫米级，测量过程无需接触土壤表面，解决了测针法对土表扰动的弊端，测量结果更可靠，能准确反映地表微地貌的细微变化。

原理及应用：利用线性激光的反射与CCD成像原理，将地表形态转换成不同物象点位置的电信号，再经计算机软件处理成数字高程模型（DEM），进而评价土壤侵蚀程度或进行相关机理研究。相对于PLS第一代产品，扫描速度更快，精度更高，采用笔记本电脑采集数据，野外使用更加方便。

应用领域：

■土表微地貌特征评价指标筛选与算法实现

■连续降雨过程中土表微地貌特征演变

■不同粗糙度土表粗糙度模型建立

■不同坡度剖面侵蚀及侵蚀泥沙分布

实测图：

技术参数：

■剖面分辨率：0.5 mm

■垂直分辨率：0.1 mm

■测量宽度：60 cm

■测量长度：最大3 m

■每分钟可扫描大于400个剖面

■实验室和野外都可使用

■没有土壤类型限制

■数据为XYZ 高程或矩阵数据

仪器配置：

产地：美国